Mario Rieder

Scanning electron microscopy (SEM) Nicht standardisierte Messwertaufnehmer Unser Technologieangebot (SMART Chart) Our technology offering (SMART Chart) Rasterelektronenmikroskopie (REM) Non-standardized transducers Ermüdungsversuche Electron microprobe (EPMA/WDX) Schadenanalytik Fatigue tests Damage analysis Elektronenmikrosonde (EPMA/WDX) X-ray fluorescence analysis (RFA) Schaden- und Werkstoffanalytik Dehnungsmessungen Werkstoffanalytik Materials and Failure Analysis Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) Strain measurements Materialcharakterisierung Metallografie Material characterization Zeitstandversuche X-ray diffraction (XRD) creep rupture tests Röntgendiffraktometrie (XRD) Bauteilprüfung Component testing Gasheissextraktion Water analysis and consulting Wasseranalytik und Beratung Gas hot extraction Combustion analysis Beratungen / Dienstleistungen / Seminare Consulting / Services / Seminars Verbrennungsanalyse Asbestos analysis Asbestanalytik Gutachten und Expertisen