Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist ein Allzweckwerkzeug für die Forschung, Entwicklung, Qualitätssicherung und Schadenanalyse. Komponenten, Baugruppen und Bruchflächen können auf Materialzusammensetzung und Oberflächenstruktur untersucht werden.
Hoch aufgelöst und analysiert
Bei der Rasterelektronenmikroskopie wird ein fein gebündelter Elektronenstrahl zeilenförmig über die Oberfläche des Untersuchungsobjektes geführt. Der dabei von der Probe rückgestreute Elektronenstrom wird erfasst und auf dem Bildschirm dargestellt. Der wesentliche Vorteil der Rasterelektronenmikroskopie ist die hohe Auflösung bei gleichzeitig grosser Tiefenschärfe. Vergrösserungen bis zu ca. 50’000fach können erzielt werden. Neben der genauen Darstellung der Oberflächentopographie können auch lokale Unterschiede in der Probenzusammensetzung sichtbar gemacht werden. Elemente ab der Ordnungszahl 6 (inkl. O, C und N) sind qualitativ bis halbquantitativ nachweisbar.
Anwendungsbeispiele:
- Charakterisierung von Werkstoffen und Oberflächen
- Untersuchung von Bruchflächen aus Schadenfällen
- Qualitätskontrolle von Komponenten und Bauteilen
- Bestimmung der chemischen Zusammensetzung sehr kleiner Proben
Neben der genauen Darstellung der Oberflächentopographie können auch Unterschiede in der Werkstoffzusammensetzung der Probe sichtbar gemacht werden. Mittels energiedispersiver Röntgenanalyse (EDX) können Elemente mit einer Atommasse von 6 und höher (d.h. einschliesslich O, C und N) qualitativ und halbquantitativ analysiert werden. In der grossen Probenkammer können Proben und Bauteile von bis zu 200 mm Durchmesser und 50 mm Höhe untersucht werden. Das REM ist mit einem der fortschrittlichsten EDX-Spektrometern ausgerüstet.