Diffractométrie des rayons X (XRD)
Cette méthode est utilisée pour les études visant à déterminer les structures cristallines.
Caractérisation de la structure atomique
La diffraction des rayons X (XRD) utilise la propriété des rayons X de pouvoir traverser différents matériaux ainsi que la caractéristique d’être plus ou moins absorbés selon le matériau, ce qui a conduit à des procédés d’imagerie bien connus dans la technologie médicale.
Outre le phénomène de transmission, la diffraction du rayonnement peut également être utilisée à des fins analytiques. La diffraction des rayons X (XRD) est utilisée, entre autres, pour caractériser la structure atomique de substances pures et de mélanges. En premier lieu, la méthode est utilisée pour l’identification de substances et de phases inconnues (par ex. différentes phases dans des couches de projection thermique), la détermination de la structure de substances ainsi que pour différencier les formes amorphes et cristallines d’un solide donné.
Applications pour la détermination de :
- Analyse de la structure cristalline
- Analyse de texture
- Analyse de phase
- Etat de dilatation et de tension
- Orientation des cristaux
- Couches minces
- Paramètres de réseau