Microscopie électronique à balayage (MEB)
Le microscope électronique à balayage (MEB) est un outil polyvalent pour la recherche, le développement, l'assurance qualité et l'analyse des dommages. Les composants, les assemblages et les surfaces de rupture peuvent être examinés pour déterminer la composition du matériau et la structure de la surface.
Haute résolution et analyse
Lors de la microscopie électronique à balayage, un faisceau d’électrons finement focalisé est guidé en ligne sur la surface de l’objet à examiner. Le flux d’électrons rétrodiffusé par l’échantillon est enregistré et affiché sur l’écran. Le principal avantage de la microscopie électronique à balayage est la haute résolution associée à une grande profondeur de champ. Il est possible d’obtenir des grossissements jusqu’à environ 50’000 fois. Outre la représentation précise de la topographie de surface, il est également possible de mettre en évidence des différences locales dans la composition de l’échantillon. Les éléments à partir du numéro atomique 6 (y compris O, C et N) peuvent être détectés qualitativement à semi-quantitativement.
Exemples d’applications :
- Caractérisation de matériaux et de surfaces
- Examen de surfaces de rupture issues de sinistres
- Contrôle de qualité de composants et de pièces
- Détermination de la composition chimique de très petits échantillons
Outre la représentation précise de la topographie de la surface, il est également possible de mettre en évidence les différences dans la composition des matériaux de l’échantillon. L’analyse par rayons X à dispersion d’énergie (EDX) permet d’analyser qualitativement et semi-quantitativement les éléments ayant une masse atomique de 6 et plus (c.-à-d. y compris O, C et N). La grande chambre à échantillons permet d’analyser des échantillons et des composants d’un diamètre allant jusqu’à 200 mm et d’une hauteur de 50 mm. Le MEB est équipé de l’un des spectromètres EDX les plus avancés.